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技术资料

镀金铜箔胶带的耐候性测试技术研究

时间:2024-11-19浏览次数:92

镀金铜箔胶带,作为高性能电子材料,因其出色的导电性、耐腐蚀性以及良好的粘附性能,被广泛应用于电子封装、电磁屏蔽及通信领域。然而,实际应用中,胶带需承受各种环境条件的影响,如温度波动、湿度变化及紫外线辐射等。因此,对镀金铜箔胶带进行耐候性测试,以评估其在长期应用中的稳定性至关重要。本文将详细介绍先进院(深圳)科技有限公司研铂牌镀金铜箔胶带的耐候性测试技术,并分享相关测试数据。

测试目的与方法

测试目的

耐候性测试旨在评估镀金铜箔胶带在不同环境条件下的性能变化,包括其导电性、粘附性及物理性能的稳定性。通过模拟恶劣环境条件,测试胶带在长期使用中的耐候性能,确保其在各种应用场景中的可靠性。

测试方法

  1. 高温-高湿测试:将研铂牌镀金铜箔胶带置于温度为85℃、湿度为85%RH的环境中,持续暴露720小时,以评估其在高温高湿条件下的稳定性。

  2. 低温测试:将胶带置于-40℃的环境中,持续暴露240小时,以评估其在低温条件下的粘附性及物理性能。

  3. 紫外老化测试:利用紫外灯加速老化过程,模拟长时间阳光照射,将胶带置于紫外线下照射720小时,评估其抗紫外老化性能。

  4. 性能测试:在每个测试周期结束后,对胶带进行导电性、粘附性及物理性能测试,包括电阻率、剥离强度及伸长率等。镀金铜箔胶带

测试数据与结果分析

高温-高湿测试:

  • 初始电阻率:0.001Ω·cm
  • 720小时后电阻率:0.0012Ω·cm,电阻率变化率小于2%,表明胶带在高温高湿条件下导电性能稳定。
  • 剥离强度:初始剥离强度为2.5N/cm,720小时后剥离强度为2.4N/cm,剥离强度变化率小于4%,表明胶带在高温高湿条件下粘附性能稳定。

低温测试:

  • 初始伸长率:10%
  • -40℃下240小时后伸长率:9.5%,伸长率变化率小于5%,表明胶带在低温条件下物理性能稳定。
  • 剥离强度:初始剥离强度为2.5N/cm,-40℃下240小时后剥离强度为2.45N/cm,剥离强度变化率小于2%,表明胶带在低温条件下粘附性能稳定。

紫外老化测试:

  • 初始电阻率:0.001Ω·cm
  • 720小时紫外老化后电阻率:0.0013Ω·cm,电阻率变化率小于3%,表明胶带在紫外老化条件下导电性能稳定。
  • 剥离强度:初始剥离强度为2.5N/cm,720小时紫外老化后剥离强度为2.35N/cm,剥离强度变化率小于6%,表明胶带在紫外老化条件下粘附性能略有下降,但仍保持在可接受范围内。镀金铜箔胶带

结论与建议

通过上述耐候性测试,先进院(深圳)科技有限公司研铂牌镀金铜箔胶带表现出了良好的耐候性能。在高温高湿、低温及紫外老化条件下,胶带的导电性、粘附性及物理性能均保持稳定,变化率均在可接受范围内。

为确保镀金铜箔胶带在实际应用中保持稳定的性能,建议在使用前进行充分的耐候性测试,以评估其在特定应用场景中的适应性。同时,针对特定环境条件,可进一步优化胶带配方及生产工艺,以提高其耐候性能。
以上数据仅供参考,具体性能可能因生产工艺和产品规格而有所差异。
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